Hello~Welcome to the official website of {Shanghai You so Information Technology Co., LTD}~

Почтов ящик

agicmikroskop@yandex.com

USPM-RU-W почти инфракрасный спектрограф

USPM-RU-W в олимпе может быть очень быстрым и очень точным для спектрометрии длины волн видимого и почти инфракрасного диапазона. Поскольку он может легко определить микроскопические области, отражающие поверхность, которые не могут определить обычные спектрофотометры, он может быть применим к таким продуктам, как оптические компоненты и микроскопические электронные компоненты.


Функция определения реальности

Различные спектрометрические измерения для коэффициента отражения, толщины мембраны, цвета объектов, через коэффициент прохода, угол падения 45 градусов.


◆ определен отражательн способн

Степень отражения, измеряемая крошечными точками, находящими под поверхностью объектива от 17 до 70 м.

◆ определен мембра толст

Данные об интенсивности отражения для жизни позволяют определить толщину мембраны в одной слое и многослойной мембране приблизительно 50 нм — 10 м.

◆ определен объект цвет

Согласно данным коэффициента отражения, показаны графы XY, графы L*a*b и соответствующие значения.

Уровен ◆ определен через

Измеряется скорость прохожения образца через плоскость из-под стола через параллельный свет, проходящий под ним. отбор

◆ определен угол паден прожива 45 градус отражательн способн

Отражение от боковой поверхности в 45 градусов от поверхности света, находящемся под поверхностью 2мм, определяет степень отражения. отбор


Высокая точность и высокоскоростное определение домена


◆ достижен высокоскоростн определен

Используя плоские решётки и линейные сенсоры для одновременного и одновременного спектрометрического измерения, таким образом, для высокоскоростного измерения.

◆ распространя на определен крошечн компонент, линз отражательн способн

Новые разработаны специальные объективы, которые могут быть определены без контактных линз в области, находящущуренной на высоте от 17 до 70 метров. Обычные спектрофотометры, которые не могут быть определены мелкими электронными компонентами или изгиями линз, также могут быть реализованы высоковоспроизводительные измерения.

◆ определен отражательн способн, не нужн сзад противоотражательн

Для определения коэффициента отражения на тонком 0,2 мм (0,2 мм) будут использованы специальные объективы с кольцевым освещением, не требуя оборотной обработки на обратной стороне обнаруженного объекта.

◆ но метод мембра толст определен

Анализ толщины мембраны на одной или нескольких слоях, основываясь на данных об измерении светового отражения. Метод может быть определен по выбору использования.

Friendly Links:

Sitemap HTML | Sitemap XML